<sub id="dptcu"><meter id="dptcu"><cite id="dptcu"></cite></meter></sub>

<output id="dptcu"></output>

  • <input id="dptcu"></input>
      <var id="dptcu"><rt id="dptcu"></rt></var>
      1. <th id="dptcu"><meter id="dptcu"></meter></th>
        <sub id="dptcu"><code id="dptcu"><ol id="dptcu"></ol></code></sub>
      2. <th id="dptcu"><code id="dptcu"></code></th>
      3. 歡迎來到上海曼戈斐光學技術有限公司網站!
        咨詢熱線

        17706131531

        當前位置:首頁  >  技術文章  >  原子力顯微鏡使用的注意事項

        原子力顯微鏡使用的注意事項

        發布時間:2022-06-14      點擊次數:201
        原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy,AFM),是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件(探針)之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。 
         
        AFM可以對樣品表面形態、納米結構、鏈構象等方面進行研究,獲得納米顆粒尺寸,孔徑,材料表面粗糙度,材料表面缺陷等信息,同時還能做表面結構形貌跟蹤(隨時間,溫度等條件變化)。也可對樣品的形貌進行豐富的三維模擬顯示,使圖像更適合于人的直觀視覺。結合儀器的各種標準操作模式以及附件,可在進行高分辨成像的同時,獲得包括樣品力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標。 
         
        原子力顯微鏡使用的注意事項:
         
        ①粉末/液體樣品請備注好制樣條件,包括分散液、超聲時間及配制濃度;
        ②測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上,基底大小>0.5*0.5cm;
        ③PFM、KPFM測試需要樣品表面十分平整,粉末測試很難測到較好結果,下單前請確保風險可接受;
        ④塊狀樣品需要固定好,避免在寄送過程產生晃動或摩擦影響測試結果;
        ⑤超聲不超過20min,如需長時間超聲,需要自己超聲好以后給我們,但是長時間超聲后,對樣品的影響會比較大,需自行承擔測試風險;
        ⑥常規測試項目每樣提供2~3張圖片,特殊測試項目每樣提供1~2張圖片,力曲線每樣測試3~5條。
        上海曼戈斐光學技術有限公司
        • 聯系人:干女士
        • 地址:蘇州工業園區星漢街5號騰飛新蘇工業坊B幢6樓13室
        • 郵箱:ganxiafen@megphy.com
        • 傳真:0512-62510650
        關注我們

        歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息

        掃一掃
        關注我們
        版權所有©2022上海曼戈斐光學技術有限公司All Rights Reserved    備案號:滬ICP備18013203號-1    sitemap.xml    總流量:178408
        管理登陸    技術支持:化工儀器網    

        <sub id="dptcu"><meter id="dptcu"><cite id="dptcu"></cite></meter></sub>

        <output id="dptcu"></output>

      4. <input id="dptcu"></input>
          <var id="dptcu"><rt id="dptcu"></rt></var>
          1. <th id="dptcu"><meter id="dptcu"></meter></th>
            <sub id="dptcu"><code id="dptcu"><ol id="dptcu"></ol></code></sub>
          2. <th id="dptcu"><code id="dptcu"></code></th>
          3. 色天天爱天天狠天天透_色香欲天天天影视综合网_天天综合亚洲综合网站